[发明专利]缺陷合并的方法、装置、计算机设备及存储介质在审
| 申请号： | 201910876015.7 | 申请日： | 2019-09-17 |
| 公开（公告）号： | CN110728659A | 公开（公告）日： | 2020-01-24 |
| 发明（设计）人： | 夏鑫淼;王双桥;张孟 | 申请（专利权）人： | 深圳新视智科技术有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/136;G06T7/187;G01N21/88 |
| 代理公司： | 44528 深圳中细软知识产权代理有限公司 | 代理人： | 阎昱辰 |
| 地址： | 518000 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种缺陷合并方法，该方法包括：获取待检测目标的目标图像，识别目标图像中的缺陷区域，识别出的缺陷区域的数量为至少一个；遍历所述至少一个缺陷区域，判断遍历到的缺陷区域与其他缺陷区域之间的距离是否小于预设的第一距离阈值；若遍历到的缺陷区域与其他缺陷区域之间的距离小于预设的第一距离阈值，将遍历到的缺陷区域与距离小于预设的第一距离阈值的其他缺陷区域进行合并，将合并之后的缺陷区域作为目标缺陷区域输出。本发明的缺陷合并方法可以对检测到的缺陷进行合并，避免了将小块区域内的多个缺陷分别作为缺陷进行处理，提高了缺陷检测的整体性。此外还提出了一种缺陷合并的装置、计算机设备以及存储介质。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷区域 合并 遍历 预设 目标图像 计算机设备 存储介质 目标缺陷 缺陷检测 小块区域 检测 输出 | ||
【主权项】：
1.一种缺陷合并的方法，其特征在于，所述方法包括：/n获取待检测目标的目标图像，识别目标图像中的缺陷区域，识别出的缺陷区域的数量为至少一个；/n遍历所述至少一个缺陷区域，判断遍历到的缺陷区域与其他缺陷区域之间的距离是否小于预设的第一距离阈值；/n若遍历到的缺陷区域与其他缺陷区域之间的距离小于预设的第一距离阈值，将遍历到的缺陷区域与距离小于预设的第一距离阈值的其他缺陷区域进行合并，将合并之后的缺陷区域作为目标缺陷区域输出。/n
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