[发明专利]一种晶体测试装置在审
| 申请号： | 201910881159.1 | 申请日： | 2019-09-18 |
| 公开（公告）号： | CN110624858A | 公开（公告）日： | 2019-12-31 |
| 发明（设计）人： | 毛毅 | 申请（专利权）人： | 珠海东精大电子科技有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/344 | 分类号： | B07C5/344 |
| 代理公司： | 44214 广州市红荔专利代理有限公司 | 代理人： | 王贤义 |
| 地址： | 519000 广东省珠海*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种晶体测试装置，旨在提供一种能够消除产品内在品质隐患的晶体测试装置。本发明包括机台及晶体上料模组，机台上设置有晶体运输模组、下料模组、晶体电性测试模组及晶体敲击模组，晶体上料模组与晶体运输模组相接，晶体运输模组与晶体运输模组的一侧相接，下料模组与晶体运输模组的另一侧相接，晶体运输模组的一侧上设置有晶体测试工位，晶体电性测试模组及晶体敲击模组均与晶体测试工位配合，晶体敲击模组位于晶体电性测试模组的下方。本发明应用于石英晶体测试装置的技术领域。 | ||
| 搜索关键词： | 运输模组 模组 晶体测试 电性测试 敲击 上料模组 下料模组 工位 机台 测试装置 内在品质 石英晶体 应用 配合 | ||
【主权项】：
1.一种晶体测试装置，其特征在于：其包括机台（1）及晶体上料模组（2），所述机台（1）上设置有晶体运输模组（3）、下料模组（4）、晶体电性测试模组（5）及晶体敲击模组（6），所述晶体上料模组（2）与所述晶体运输模组（3）相接，所述晶体运输模组（3）与所述晶体运输模组（3）的一侧相接，所述下料模组（4）与所述晶体运输模组（3）的另一侧相接，所述晶体运输模组（3）的一侧上设置有晶体测试工位，所述晶体电性测试模组（5）及所述晶体敲击模组（6）均与所述晶体测试工位配合，所述晶体敲击模组（6）位于所述晶体电性测试模组（5）的下方。/n
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