[发明专利]一种银粉分散体系保质期的检验方法及系统有效
| 申请号： | 201910885009.8 | 申请日： | 2019-09-19 |
| 公开（公告）号： | CN110514687B | 公开（公告）日： | 2022-11-29 |
| 发明（设计）人： | 段兴汉;武桐 | 申请（专利权）人： | 上海景瑞阳实业有限公司 |
| 主分类号： | G01N24/08 | 分类号： | G01N24/08 |
| 代理公司： | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人： | 刘凤玲 |
| 地址： | 201315 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种银粉分散体系保质期的检验方法及系统。所述方法包括：对溶剂进行样品提取，获取第一样品；将银粉放入所述溶剂中，对分散有银粉的溶剂进行样品提取，获取第二样品；将第一样品和第二样品放入低场核磁检验仪器，获得第一样品的第一弛豫时间和第二样品的第二弛豫时间；根据第一弛豫时间和第二弛豫时间确定银粉在溶剂中分散的弛豫率；根据弛豫率和银粉的比表面积确定银粉与溶剂的亲和性；根据亲和性确定银粉分散溶剂的保质期。本发明根据亲和性确定银粉分散溶剂的保质期，能够动态在线对银粉分散体系的保质期进行检测，提高了银粉分散体系的检测速度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 银粉 分散 体系 保质期 检验 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种银粉分散体系保质期的检验方法，其特征在于，所述方法包括：/n对溶剂进行样品提取，获取第一样品；/n将银粉放入所述溶剂中，对分散有所述银粉的溶剂进行样品提取，获取第二样品；/n将所述第一样品和所述第二样品放入低场核磁检验仪器，获得所述第一样品的第一弛豫时间和所述第二样品的第二弛豫时间；/n根据所述第一弛豫时间和所述第二弛豫时间确定所述银粉在所述溶剂中分散的弛豫率；/n根据所述弛豫率和所述银粉的比表面积确定所述银粉与所述溶剂的亲和性；/n根据所述亲和性确定银粉分散溶剂的保质期。/n
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