[发明专利]一种自适应二次三次谐波联合探测显微成像方法及装置在审

专利信息
申请号: 201910886396.7 申请日: 2019-09-19
公开(公告)号: CN110623641A 公开(公告)日: 2019-12-31
发明(设计)人: 王伟波;吴必伟;谭久彬 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: A61B5/00 分类号: A61B5/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 150001 黑龙*** 国省代码: 黑龙;23
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摘要: 发明涉及一种自适应二次三次谐波联合探测显微成像方法及装置,属于光学显微成像技术领域;本发明在传统谐波显微装置的探测路径上同时设置二次、三次谐波信号探测模块,利用二向色镜和滤光片实现二次谐波信号和三次谐波信号的分离和滤波,采用独立的光电探测器分别对二次谐波、三次谐波信号进行探测;在系统中引入自适应像差校正装置,用于校正对样品进行大深度探测时存在的像差。本发明装置包括激光扫描系统、自适应像差校正系统、谐波信号激发系统、谐波信号探测系统、宽场成像系统、以及图像重建与数据处理系统。本发明实现了二次、三次谐波信号的联合探测以及样品结构信息的互补,且在大深度探测时保持了成像质量。
搜索关键词: 三次谐波信号 自适应 探测 深度探测 谐波信号 二次谐波信号 光学显微成像 激光扫描系统 宽场成像系统 数据处理系统 像差校正装置 光电探测器 二次谐波 二向色镜 激发系统 三次谐波 探测路径 探测模块 探测系统 图像重建 显微成像 显微装置 像差校正 样品结构 滤光片 滤波 像差 谐波 校正 成像 联合 引入
【主权项】:
1.一种自适应二次三次谐波联合探测显微成像装置,其特征在于所述装置包括:激光扫描系统、自适应像差校正系统、谐波信号激发系统、谐波信号探测系统、宽场成像系统、以及图像重建与数据处理系统;/n其中:所述激光扫描系统包括超短脉冲激光光源、光开关、光束变换单元,以及光束扫描元件;超短脉冲激光光源用于提供产生谐波信号的激发脉冲光,光开关用于激发光的开关控制,光束变换单元用于调整所述激发脉冲光光束尺寸,光束扫描元件用于激发光对样品的扫描;/n所述自适应像差校正系统置于激光扫描系统之后,包括透镜组、波前传感器和动态光学元件;透镜组用于连接光束扫描元件和动态光学元件,波前传感器用于波前传感,动态光学元件用于调制光路波前从而校正成像过程中的像差;/n所述谐波信号激发系统置于自适应像差校正系统之后,包括透镜组和显微物镜,由该透镜组连接所述动态光学元件及所述显微物镜后入瞳面,并构成4f系统,用于激发光束的聚焦及谐波信号的激发;/n所述谐波信号探测系统包括三维微位移台、谐波信号探测物镜、透镜、二向色镜、滤光片、以及光电探测器;对于反射式探测,谐波信号探测物镜即为显微物镜;对于透射式探测,谐波信号探测物镜置于样品的透射端;透镜用于谐波信号的聚焦,二向色镜用于二次、三次谐波信号的分离,滤光片用于滤除谐波信号以外的杂散光,光电探测器用于谐波信号的采集;/n所述宽场成像系统包括LED光源、透镜组、宽场成像相机;LED光源用于宽场照明,透镜组用于光路调整,宽场成像相机用于成像;/n所述图像重建与数据处理系统,与所述激光扫描系统中的扫描元件和所述自适应像差校正系统中的动态光学元件以及光电探测器相连,用于对成像器件采集到的扫描图像进行全局图像处理;/n所有光学元件的光学面中心与入射激光和谐波信号的中心光束形成的光轴重合,所有透镜均垂直于光轴。/n
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