[发明专利]一种光谱仪在审
| 申请号： | 201910887670.2 | 申请日： | 2019-09-19 |
| 公开（公告）号： | CN110736541A | 公开（公告）日： | 2020-01-31 |
| 发明（设计）人： | 潘建根;蔡欢庆;沈思月 | 申请（专利权）人： | 杭州远方光电信息股份有限公司 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28;G01J3/04;G01J3/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 310053 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开一种光谱仪，包括依照光线入射顺序设置的第一狭缝，准直单元，第一色散单元，聚焦单元，第二狭缝，第二色散单元及二维阵列探测器；入射光经所述第一色散单元和所述第二色散单元的二次色散后，成像至所述二维阵列探测器接收面，其中，所述第一色散单元的主截面和所述第二色散单元的主截面为相互垂直的。本发明可以使得不同波长的光在二维阵列探测器接收面的平面上呈倾斜分离，消除了相近波长光在测试过程中反射到目标波长区域带来的误差，进一步剔除杂散光对测试结果的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 色散单元 二维阵列探测器 主截面 狭缝 测试过程 光线入射 聚焦单元 目标波长 顺序设置 准直单元 光谱仪 波长光 垂直的 接收面 入射光 杂散光 波长 色散 反射 成像 剔除 | ||
【主权项】：
1.一种光谱仪，其特征在于，包括/n依照光线入射顺序设置的第一狭缝，准直单元，第一色散单元，聚焦单元，第二狭缝，第二色散单元及二维阵列探测器；/n入射光经所述第一色散单元和所述第二色散单元的二次色散后，成像至所述二维阵列探测器接收面，其中，所述第一色散单元的主截面和所述第二色散单元的主截面为相互垂直的。/n
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