[发明专利]相控阵天线的并行幅相校准方法及系统有效

专利信息
申请号: 201910888305.3 申请日: 2019-09-19
公开(公告)号: CN110708127B 公开(公告)日: 2021-08-24
发明(设计)人: 曹岸杰;贺冲;陈靖峰;范凯;曲耀斌;张国强;成飞 申请(专利权)人: 上海卫星工程研究所
主分类号: H04B17/12 分类号: H04B17/12;H04B17/21
代理公司: 上海段和段律师事务所 31334 代理人: 李佳俊;郭国中
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供了一种相控阵天线的并行幅相校准方法及系统,包括:校准信号设置步骤:设置单频校准信号入射到相控阵天线上,或通过相控阵天线发出;初始状态设置步骤:选择相控阵天线上的多个天线单元,设置所选择的每个天线单元的移相器为初始状态;调制步骤:对所选择的每个天线单元的移相器进行周期性相位调制;分析步骤:分析接收到的单频校准信号的谐波特征来校准对应的天线单元的幅度和相位。本发明能同时对相控阵天线的多个单元进行(同时校准的单元数目不限),通过对接收的校准信号进行谐波特征分析来计算各单元通道上的幅度和相位。
搜索关键词: 相控阵 天线 并行 校准 方法 系统
【主权项】:
1.一种相控阵天线的并行幅相校准方法,其特征在于,包括:/n校准信号设置步骤:设置单频校准信号入射到相控阵天线上,或通过相控阵天线发出;/n初始状态设置步骤:选择相控阵天线上的多个天线单元,设置所选择的每个天线单元的移相器为初始状态;/n调制步骤:对所选择的每个天线单元的移相器进行周期性相位调制;/n分析步骤:分析接收到的单频校准信号的谐波特征来校准对应的天线单元的幅度和相位。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海卫星工程研究所,未经上海卫星工程研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910888305.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top