[发明专利]一种陶瓦表面缺釉检测方法及系统有效
| 申请号： | 201910888772.6 | 申请日： | 2019-09-19 |
| 公开（公告）号： | CN110763682B | 公开（公告）日： | 2022-06-03 |
| 发明（设计）人： | 朱加云;郑胜;涂远江;曾曙光;肖焱山;王啸;王亚飞 | 申请（专利权）人： | 湖北三江航天万峰科技发展有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G06T7/00;G06T7/11;G06T7/12;G06T5/30 |
| 代理公司： | 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 | 代理人： | 李佑宏 |
| 地址： | 432000 *** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种陶瓦表面缺釉检测方法及系统，其通过获取待检测陶瓦的表面图像，利用颜色判别法对待检测陶瓦进行颜色分类；采用高斯滤波法对对待检测陶瓦的表面图像进行滤波，依据分类颜色对来滤波后的图像进行相应的图像增强；采用与分类颜色对应的二值化图像处理方法获取待检测陶瓦的二值化图像；对待检测陶瓦的二值化图像进行特征值提取，依据特征值进行待检测陶瓦的缺釉状态的检测，通过分类陶瓦的颜色进行不同的处理，提高陶瓦表面缺釉检测的准确度，同时，通过提取对应的二值化值可以简化图像检测的计算，提高陶瓦表面缺釉检测的速度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 表面 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种陶瓦表面缺釉检测方法，其特征在于，包括如下步骤：/nS1.获取待检测陶瓦的表面图像，利用颜色判别法对待检测陶瓦进行颜色分类；/nS2.采用高斯滤波法对待检测陶瓦的表面图像进行滤波，依据分类颜色对来滤波后的图像进行相应的图像增强；/nS3.采用与分类颜色对应的二值化图像处理方法获取待检测陶瓦的二值化图像；/nS4.对待检测陶瓦的二值化图像进行特征值提取，依据特征值进行待检测陶瓦的缺釉状态的检测。/n
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