[发明专利]基于链式杂交反应及荧光碳量子点的痕量MUC1荧光检测方法有效

专利信息
申请号: 201910889280.9 申请日: 2019-09-19
公开(公告)号: CN110734960B 公开(公告)日: 2023-03-14
发明(设计)人: 杨大威;缪鹏;陈锡峰;孟凡渝 申请(专利权)人: 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所
主分类号: C12Q1/6818 分类号: C12Q1/6818;G01N33/68;G01N33/574
代理公司: 北京远大卓悦知识产权代理有限公司 11369 代理人: 韩飞
地址: 215163 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种基于链式杂交反应及荧光碳量子点的痕量MUC1荧光检测方法,具体为:先合成碳量子点,然后将颈环DNA H1、H2修饰至碳量子点上,再与氧化石墨烯混合;MUC1不存在时,修饰有碳量子点的H1、H2吸附至氧化石墨烯表面,由于荧光共振能量转移效应,碳量子点荧光猝灭;当MUC1存在时,MUC1与适配体结合,并促发H1、H2发生链式杂交反应形成链式杂交产物,脱离氧化石墨烯的表面,最终碳量子点荧光得到恢复;从而通过荧光检测实现MUC1含量的测定。本方法通过链式杂交反应实现的信号的放大,大大提高了MUC1检测的灵敏度;同时本方法合成的荧光碳量子点荧光性质稳定,极大提高了本方法的稳定性和重复性。
搜索关键词: 基于 链式 杂交 反应 荧光 量子 痕量 muc1 检测 方法
【主权项】:
1.一种基于链式杂交反应及荧光碳量子点的痕量MUC1荧光检测方法,其特征在于,该方法具体为:首先合成碳量子点,然后将颈环DNA H1、H2修饰至碳量子点上,再与氧化石墨烯混合;当MUC1不存在时,修饰有碳量子点的H1、H2吸附至氧化石墨烯表面,由于荧光共振能量转移效应,碳量子点荧光猝灭;当MUC1存在时,MUC1与适配体结合,并促发H1、H2发生链式杂交反应形成链式杂交产物,脱离氧化石墨烯的表面,最终荧光得到恢复;从而通过荧光检测实现MUC1含量的测定。/n
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