[发明专利]一种陶瓦表面裂纹检测方法及系统在审
| 申请号： | 201910889381.6 | 申请日： | 2019-09-19 |
| 公开（公告）号： | CN110687122A | 公开（公告）日： | 2020-01-14 |
| 发明（设计）人： | 朱加云;郑胜;涂远江;曾曙光;肖焱山;程军林;李宁 | 申请（专利权）人： | 湖北三江航天万峰科技发展有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G06T7/11;G06T7/12;G06T5/30 |
| 代理公司： | 42224 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 李佑宏 |
| 地址： | 432000 *** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种陶瓦表面裂纹检测方法及系统，其通过获取待检测陶瓦表面图像，利用快速自适应中值滤波方法对待检测图像进行滤波处理，将图像分割为瓦头区域和纹理区域；采用自定义滑动滤波方法对瓦头区域的裂纹缺陷进行图像增强与分割处理，以得到瓦头区域的二值化图像；采用自动区域生长方法对纹理区域的裂纹缺陷进行图像增强与分割处理，以得到纹理区域的二值化图像；对瓦头区域和纹理区域的二值化图像进行形态学运算去除杂散干扰点，并提取裂纹的特征参数，依据提取裂纹的特征参数进行裂纹缺陷的判别，从而提高陶瓦表面裂纹检测的重复精度以及检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 纹理区域 二值化图像 裂纹缺陷 表面裂纹检测 分割处理 特征参数 图像增强 形态学运算 表面图像 检测图像 滤波处理 图像分割 杂散干扰 中值滤波 自动区域 滑动 自定义 自适应 检测 滤波 去除 生长 重复 | ||
【主权项】：
1.一种陶瓦表面裂纹检测方法，其特征在于，包括如下步骤：/nS1.获取待检测陶瓦表面图像，利用快速自适应中值滤波方法对待检测图像进行滤波处理，将滤波后的图像分割为瓦头区域和纹理区域；/nS2.采用自定义滑动滤波方法对瓦头区域的裂纹缺陷进行图像增强与分割处理，以得到瓦头区域的二值化图像；采用自动区域生长方法对纹理区域的裂纹缺陷进行图像增强与分割处理，以得到纹理区域的二值化图像；/nS3.对瓦头区域和纹理区域的二值化图像进行形态学运算去除杂散干扰点，并提取裂纹的特征参数，依据提取裂纹的特征参数进行裂纹缺陷的判别。/n
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