[发明专利]电力变换装置及其功率半导体器件健康状态自检方法有效

专利信息
申请号: 201910892853.3 申请日: 2019-09-20
公开(公告)号: CN110596563B 公开(公告)日: 2021-11-02
发明(设计)人: 王浩然;王圣明;周法杰;王鼎奕 申请(专利权)人: 阳光电源股份有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 钱娜
地址: 230088 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明提供一种电力变换装置及其功率半导体器件健康状态自检方法,该方法,包括:在待测功率半导体器件所在的模块满足健康状态检测条件时,获取待测功率半导体器件的结温,然后驱动待测功率半导体器件导通,并控制待测功率半导体器件流过检测电流,同时检测待测功率半导体器件的导通压降,得到导通压降的检测值;若导通压降的检测值与导通压降的理论值之间的差值大于等于阈值,则判定待测功率半导体器件出现封装失效现象;进而实现了对于待测功率半导体器件的健康状态自检测,避免了功率半导体器件发生封装失效现象所造成的IGBT器件的故障运行和整机运行崩溃的问题。
搜索关键词: 电力 变换 装置 及其 功率 半导体器件 健康 状态 自检 方法
【主权项】:
1.一种电力变换装置的功率半导体器件健康状态自检方法,其特征在于,包括:/nS101、判断待测功率半导体器件所在的模块是否满足健康状态检测条件;所述模块为所述电力变换装置中主电路的功率模块;/n若所述模块满足健康状态检测条件,则执行步骤S102;/nS102、获取所述待测功率半导体器件的结温;/nS103、驱动所述待测功率半导体器件导通;/nS104、控制所述待测功率半导体器件流过检测电流,同时检测所述待测功率半导体器件的导通压降,得到所述导通压降的检测值;/nS105、判断所述导通压降的检测值与所述导通压降的理论值之间的差值是否小于阈值;所述导通压降的理论值为根据所述检测电流计算得到的;/n若所述差值大于等于所述阈值,则执行步骤S106;/nS106、判定所述待测功率半导体器件出现封装失效现象。/n
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