[发明专利]地外天体软着陆探测器低采样频率条件下着陆指标评价方法有效
| 申请号： | 201910896599.4 | 申请日： | 2019-09-23 |
| 公开（公告）号： | CN110779545B | 公开（公告）日： | 2021-08-10 |
| 发明（设计）人： | 王华强;程铭;于洁;于萍;杨巍;王志文;王泽国;陈尧;李骥;关轶峰;张晓文;赵宇;张洪华 | 申请（专利权）人： | 北京控制工程研究所 |
| 主分类号： | G01C25/00 | 分类号： | G01C25/00;G01C21/16;G06F17/10 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 胡健男 |
| 地址： | 100080 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明一种地外天体软着陆探测器低采样频率条件下着陆指标评价方法，步骤如下：(1)地外天体软着陆探测器开始软着陆过程后，能够利用星上算法自主进行着陆指标实时计算；(2)当地外天体软着陆探测器满足着陆条件，对步骤(1)所述着陆指标按一定频率、一定周期数进行存储；(3)地面确认软着陆探测器安全软着陆在地外天体后，对软着陆探测器存储的着陆指标数据进行下传；(4)地面对下传的着陆指标数据进行解析，并进行评估，若着陆指标满足探测器总体所下达的软着陆任务指标要求，判定着陆指标合格；否则，判定着陆指标不合格，实现了着陆瞬间星上着陆状态的获取，为最终着陆状态确定及着陆性能评估提供了可靠技术手段。 | ||
| 搜索关键词： | 天体 软着陆 探测器 采样 频率 条件下 着陆 指标 评价 方法 | ||
【主权项】：
1.地外天体软着陆探测器低采样频率条件下着陆指标评价方法，其特征在于步骤如下：/n(1)地外天体软着陆探测器开始软着陆过程后，能够利用星上算法自主进行着陆指标实时计算；/n(2)当地外天体软着陆探测器满足设定的着陆条件，对步骤(1)所述着陆指标按设定频率、设定周期数进行存储；/n(3)地面确认软着陆探测器安全软着陆在地外天体后，对软着陆探测器存储的着陆指标数据进行下传；/n(4)地面对下传的着陆指标数据进行解析，并对解析后的数据进行评估，若着陆指标满足探测器总体所下达的软着陆任务指标要求，判定着陆指标合格；否则，判定着陆指标不合格。/n
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