[发明专利]基于结构光测量的涂胶信息检测方法

摘要

本发明公开了基于结构光测量的涂胶信息检测方法，包括：1)对胶条轮廓结构光图像进行图像处理，分割底部直线段，进行拟合，得到底部基准线；2)计算底部基准线与光平面坐标系x轴的夹角θ，将胶条轮廓旋转‑θ度；剔除底部直线段，在剩余的轮廓点组成的胶形轮廓段中计算胶高特征点、胶宽特征点；3)得到的多个胶高特征点，并计算法线；根据法线，构造平面I，选取预设帧图像，将预设帧图像中胶高特征点、胶宽特征点投影到平面I；利用胶高特征点计算胶高；将胶宽特征点之间的距离记为胶宽；4)对于涂胶轨迹中其他待测位置，重复步骤1)～3)，完成整个涂胶轨迹中胶条信息的检测；本方法对角度偏差进行校正，能够准确获取涂胶三维轮廓信息。

主权项

1.一种基于结构光测量的涂胶信息检测方法，其特征在于包括以下步骤：/n1)对线结构光传感器采集的胶条轮廓结构光图像进行图像处理，分割出胶条轮廓中的底部直线段，并对所述底部直线段进行拟合，得到底部基准线；/n2)计算底部基准线与光平面坐标系x轴的夹角θ，以光平面坐标系的原点为旋转中心，将胶条轮廓旋转-θ度；在旋转后的胶条轮廓中剔除底部直线段，将剩余的轮廓点记为胶形轮廓段；/n计算所述胶形轮廓段中各点与底部基准线的距离，将得到距离值最大的坐标点记为胶高特征点；将胶形轮廓段中首、尾端点处的坐标点记为一对胶宽特征点；/n3)若一帧胶条轮廓结构光图像中仅包含一条胶条轮廓，则对相邻帧胶条轮廓重复步骤1)～2)至少一次，获取连续帧胶条轮廓结构光图像中的胶高特征点；/n若一帧胶条轮廓结构光图像中包含多条胶条轮廓，则分别计算每条胶条轮廓中的胶高特征点；/n利用得到的多个胶高特征点，计算法线；根据所述法线，在任一胶高特征点处构造平面记为平面I，选取一张胶条轮廓图像记为预设帧图像，将所述预设帧图像中胶高特征点和一对胶宽特征点均投影到所述平面I；/n将投影后的胶高特征点的y轴坐标绝对值与底部基准线直线方程中截距的绝对值之和，记为胶高；/n将投影后的一对胶宽特征点之间的距离记为胶宽；/n4)对于涂胶轨迹中其他待测位置，重复步骤1)～3)，获取各个待测位置被涂胶条的胶宽、胶高信息，直至完成整个涂胶轨迹中胶条信息的检测。/n