[发明专利]用于纳米级相变存储器单元的垂直电极配置结构有效

专利信息
申请号: 201910906709.0 申请日: 2019-09-24
公开(公告)号: CN110635030B 公开(公告)日: 2021-10-01
发明(设计)人: 童浩;马平;缪向水 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00
代理公司: 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 代理人: 宋敏
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种用于纳米级相变存储器单元的垂直电极配置结构,其中:垂直电极配置结构包括上层电极材料层、中间相变材料层、下层电极材料层;上层电极材料层和下层电极材料层为非对称上下电极结构,可进行源漏端交换;下层电极材料层的侧方、中间相变材料层的下方配置有绝缘介质保护层。对于低阻晶态,通过构造非对称的上下电极结构,相比较于正对垂直电极结构,增大了等效电阻R,减小了工作电流,避免大电流的隧穿,延长器件寿命。同时,非正对面积分量分流了串联通路电流,增大串联过程电流扩散,也使得工作电流减小,工作电流越小,亚稳态的晶相结构越不容易被击穿。
搜索关键词: 用于 纳米 相变 存储器 单元 垂直 电极 配置 结构
【主权项】:
1.一种用于纳米级相变存储器单元的垂直电极配置结构,其特征在于:/n所述垂直电极配置结构(100)包括上层电极材料层(120)、中间相变材料层(130)、下层电极材料层(140);/n所述上层电极材料层(120)和下层电极材料层(140)为非对称上下电极结构,具有水平投影面积重叠的正对面积分量,也具有投影面积不重叠的非正对面积分量,且正对面积分量全部对应设置有所述中间相变材料层(130),部分或全部非正对面积分量也对应设置有所述中间相变材料层(130);上下电极结构可进行源漏端交换;所述下层电极材料层(140)的侧方、所述中间相变材料层(130)的下方配置有绝缘介质保护层(150)。/n
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