[发明专利]基于Fokker-Planck的高精度磁纳米温度估计方法与系统有效
申请号: | 201910907076.5 | 申请日: | 2019-09-24 |
公开(公告)号: | CN110705072B | 公开(公告)日: | 2022-11-22 |
发明(设计)人: | 杜中州;叶娜;孙毅;王丹丹;苏日建;刘文中;甘勇;李娜娜;邹东尧;金保华;朱付保;张志峰 | 申请(专利权)人: | 郑州轻工业学院 |
主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20;G01R33/12;G06F119/08;G06F119/14 |
代理公司: | 郑州优盾知识产权代理有限公司 41125 | 代理人: | 栗改 |
地址: | 450002 *** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | 本发明提出了一种基于Fokker‑Planck的高精度磁纳米温度估计方法与系统,通过Fokker‑Planck公式构建磁纳米粒子温度估计模型,利用磁场信息检测装置多次测量磁纳米粒子的磁化响应谐波幅值和相位信息,拟合磁纳米粒子温度估计模型中的模型参数;将待测样品放置磁场信息检测装置中,测量样品在外加磁场激励下的谐波幅值和相位信息,代入预设的磁纳米粒子温度估计模型,求出磁纳米温度信息。本发明可以准确获取中高频磁场激励下的磁纳米粒子温度信息,解决以往基于Langevin Function不适用中高频激励的应用场合的难题,拓展了磁纳米温度测量和磁纳米颗粒成像技术的适用领域,提高测量精度和时空间分辨率。 | ||
搜索关键词: | 基于 fokker planck 高精度 纳米 温度 估计 方法 系统 | ||
【主权项】:
1.一种基于Fokker-Planck的高精度磁纳米温度估计方法,其特征在于,其步骤为:/n步骤一:将磁场信息检测装置放置在待检测的磁纳米样品检测磁纳米样品中磁纳米粒子的磁化响应信号;/n步骤二:利用谐波幅值和相位角检测算法获取磁化响应的谐波幅值和相位角信息;/n步骤三:利用Fokker-Planck公式构建磁纳米粒子温度估计模型,将提取得到的磁化响应信号各次谐波幅值和相位角信息带入谐波幅值拟合模型得到拟合参数,将拟合参数代入磁纳米粒子温度估计模型,计算磁纳米粒子的温度信息。/n
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