[发明专利]一种多孔氮化硅陶瓷的连接方法有效

专利信息
申请号: 201910908744.6 申请日: 2019-09-25
公开(公告)号: CN110483091B 公开(公告)日: 2021-07-13
发明(设计)人: 叶枫;金义程;叶健;张标;刘强;高晔 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: C04B37/00 分类号: C04B37/00;C04B38/00;C04B35/584
代理公司: 北京君恒知识产权代理有限公司 11466 代理人: 余威
地址: 150001 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 发明涉及氮化硅陶瓷烧结领域,更具体的说是一种多孔氮化硅陶瓷的连接方法,包括多孔氮化硅基体Ⅰ、连接层和多孔氮化硅基体Ⅱ,所述连接层通过烧结将多孔氮化硅基体Ⅰ和多孔氮化硅基体Ⅱ相互连接,连接层生长依附于两侧的多孔氮化硅基体Ⅰ和多孔氮化硅基体Ⅱ,生长后的连接层相互穿插桥接两侧的多孔氮化硅基体Ⅰ和多孔氮化硅基体Ⅱ;可以实现多孔氮化硅陶瓷间的烧结连接,连接层的氮化硅晶粒依附于两侧待连接的多孔氮化硅基体Ⅰ和多孔氮化硅基体Ⅱ生长,而非基于连接层单独生长,因此连接层在烧结过程中未产生明显的收缩,有效解决了连接层因烧结收缩过大而开裂的问题。
搜索关键词: 一种 多孔 氮化 陶瓷 连接 方法
【主权项】:
1.一种多孔氮化硅陶瓷的连接方法,包括多孔氮化硅基体Ⅰ(1)、连接层和多孔氮化硅基体Ⅱ(2),其特征在于:所述连接层通过烧结将多孔氮化硅基体Ⅰ(1)和多孔氮化硅基体Ⅱ(2)相互连接,连接层生长依附于两侧的多孔氮化硅基体Ⅰ(1)和多孔氮化硅基体Ⅱ(2),生长后的连接层相互穿插桥接两侧的多孔氮化硅基体Ⅰ(1)和多孔氮化硅基体Ⅱ(2)。/n
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