[发明专利]霍尔离子源励磁线圈绝缘老化程度的评估方法在审
| 申请号： | 201910910180.X | 申请日： | 2019-09-25 |
| 公开（公告）号： | CN110470962A | 公开（公告）日： | 2019-11-19 |
| 发明（设计）人： | 魏立秋;丁永杰;唐井峰;杨鑫勇;李文博;卢惠民 | 申请（专利权）人： | 哈工大机器人(岳阳)军民融合研究院 |
| 主分类号： | G01R31/12 | 分类号： | G01R31/12 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 414000 湖南省岳阳市城陵*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种霍尔离子源励磁线圈绝缘老化程度的评估方法，该方法通过测量霍尔离子源线圈的谐振频率f，对霍尔离子源励磁线圈的绝缘老化程度进行评估：如果霍尔离子源线圈的谐振频率f越大，则霍尔离子源励磁线圈绝缘老化程度越高。本发明的霍尔离子源励磁线圈绝缘老化程度的评估方法利用了霍尔离子源的自身在霍尔漂移电流的影响下，霍尔离子源励磁线圈发生谐振的特性，通过检测谐振频率的大小，简易地对霍尔离子源励磁线圈绝缘老化进行评估。有效避免了在霍尔离子源励磁线圈两端施加高压测量老化程度对线圈老化程度的加速，降低了操作的复杂度。因此对于简化评估离子源励磁线圈老化程度方法做出了极大的改善。 | ||
| 搜索关键词： | 霍尔离子源 励磁线圈 绝缘老化 谐振频率 评估 老化 离子源 谐振 测量霍尔 高压测量 漂移电流 复杂度 霍尔 简易 施加 检测 | ||
【主权项】：
1.一种霍尔离子源励磁线圈绝缘老化程度的评估方法，其特征在于，通过测量霍尔离子源线圈的谐振频率f，对霍尔离子源励磁线圈的绝缘老化程度进行评估：如果霍尔离子源线圈的谐振频率f越大，则霍尔离子源励磁线圈绝缘老化程度越高。/n
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