[发明专利]混合同轴结构的半导体测试插座及其制备方法有效
| 申请号： | 201910914470.1 | 申请日： | 2019-09-25 |
| 公开（公告）号： | CN110726917B | 公开（公告）日： | 2022-04-05 |
| 发明（设计）人： | 施元军;殷岚勇;高宗英;刘凯;杨宗茂 | 申请（专利权）人： | 苏州韬盛电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/12;G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京化育知识产权代理有限公司 11833 | 代理人： | 闫露露 |
| 地址： | 215000 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种混合同轴结构的半导体测试插座及其制备方法，测试插座包括测试插座定位板、绝缘测试插座母体、嵌入式导电插座母体、嵌入式导电插座盖板和绝缘测试插座盖板，所述测试插座定位板、绝缘测试插座母体和绝缘测试插座盖板从上到下依次顺序设置，所述绝缘测试插座母体上设置槽口，该槽口内设置嵌入式导电插座母体和嵌入式导电插座盖板。本发明利用导电金属制作的同轴结构可以达到较好的通道之间的隔离度，大大减少了测试插座的制作成本和生产周期，同时高频信号部分可以达到‑1dB/40GHz的插损和‑10dB/40GHz的回损，通道和通道之间的隔离度高过‑40dB/20GHz。 | ||
| 搜索关键词： | 混合 同轴 结构 半导体 测试 插座 及其 制备 方法 | ||
【主权项】：
1.一种混合同轴结构的半导体测试插座，其特征在于，包括测试插座定位板、绝缘测试插座母体、嵌入式导电插座母体、嵌入式导电插座盖板和绝缘测试插座盖板，所述测试插座定位板、绝缘测试插座母体和绝缘测试插座盖板从上到下依次顺序设置，所述绝缘测试插座母体上设置槽口，该槽口内设置嵌入式导电插座母体和嵌入式导电插座盖板。/n
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