[发明专利]一种单个纳米颗粒的探测方法及探测装置有效
| 申请号： | 201910916762.9 | 申请日： | 2019-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN112557262B | 公开（公告）日： | 2022-12-09 |
| 发明（设计）人： | 刘虹遥;路鑫超;孙旭晴;江丽雯;魏茹雪;王畅 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02;G01N21/73 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 纪志超 |
| 地址： | 100029 北京市朝阳*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种单个纳米颗粒探测方法及探测装置，包括：激发表面等离激元驻波；纳米颗粒放置于表面等离激元驻波场；获取探测信号图像；调节表面等离激元驻波波腹位置；调节过程中判断探测信号图像的各个位置是否存在干涉像；若是则存在纳米颗粒；获取纳米颗粒位于波腹位置的图像作为目标信号图像；依据目标信号图像及纳米颗粒的折射率，获取纳米颗粒的尺寸。基于表面等离激元驻波与纳米颗粒相互作用实现单个纳米颗粒的实时探测，可增强局域场分布增加纳米颗粒的散射光强度提高探测灵敏度。折射率较低的介质纳米颗粒散射强度与介质纳米颗粒尺寸成线性关系，可探测到最小介质纳米颗粒直径是传输表面等离激元探测最小纳米颗粒直径的一半。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 单个 纳米 颗粒 探测 方法 装置 | ||
【主权项】：
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