[发明专利]一种抛光模修盘周期的检测装置及检测方法在审
申请号: | 201910917228.X | 申请日: | 2019-09-26 |
公开(公告)号: | CN110640618A | 公开(公告)日: | 2020-01-03 |
发明(设计)人: | 陈军;邵建达;张慧方;吴伦哲;杨明红;吴福林;秦豪杰 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海光学精密机械研究所;上海恒益光学精密机械有限公司 |
主分类号: | B24B37/005 | 分类号: | B24B37/005;B24B37/34;B24B49/12 |
代理公司: | 31317 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) | 代理人: | 张宁展 |
地址: | 201800 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种抛光模修盘周期的检测装置及检测方法,该装置包括光学检测组件、处理器、水平度测量组件。该装置的光学检测组件使用结构光对抛光模表面形貌进行探测,处理器通过接收的包含抛光模表面形貌信息的探测光,计算处理得到抛光模表面沟槽的深度和宽度信息,从而确定抛光模的修复周期,监测抛光模的维护时间节点。本发明具有结构简单,测量准确,反应迅速,实现对抛光模修盘周期的原位检测,保证抛光模表面的磨削活跃度,提高加工效率和加工质量。 | ||
搜索关键词: | 抛光模 光学检测组件 处理器 表面形貌信息 水平度测量 表面沟槽 表面形貌 计算处理 加工效率 检测装置 宽度信息 时间节点 原位检测 活跃度 结构光 探测光 磨削 探测 测量 修复 监测 检测 加工 保证 维护 | ||
【主权项】:
1.一种抛光模修盘周期的检测装置,包括:抛光盘(2),所述抛光盘(2)为圆盘或环形盘,位于所述抛光盘(2)表面浇注或粘贴的抛光模(21),所述抛光模(21)表面开有沟槽(22);位于所述的抛光盘(2)的上方且与地面固定连接的机架(1);其特征在于,还包括用于对抛光模(21)的表面形貌进行检测的光学检测组件(3),处理器(4),以及用于测量光源(31)水平安装误差的水平度测量组件(5);/n所述的水平度测量组件(5)包括:激光位移传感器(51)、连接座(52),以及位于该激光位移传感器(51)正下方的水槽(53);/n所述的光学检测组件(3)包括:光源(31)和探测装置(32),所述的光源(31)通过连接座(52)与机架(1)固定连接,用于向抛光模(21)发射探测光,所述的探测装置(32)与机架(1)固定连接,用于接收经所述的抛光模(21)反射的探测光;所述的处理器(4)分别与所述的激光位移传感器(51)和探测装置(32)相连,并处理得到所述的抛光模(21)的表面形貌,确定所述的抛光模(21)的修盘周期。/n
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