[发明专利]多孔自由曲面连续式扫描测量轨迹规划方法及系统有效

专利信息
申请号: 201910917523.5 申请日: 2019-09-26
公开(公告)号: CN110647107B 公开(公告)日: 2020-08-04
发明(设计)人: 胡鹏程;刘青松;韩振炜;陈吉红 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G05B19/401 分类号: G05B19/401
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 李智;曹葆青
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种多孔自由曲面连续式扫描测量轨迹规划方法及系统,属于五轴测量领域,该方法包括:生成多孔自由曲面中的骨架线,将所得的各条骨架线作为测量轨迹规划过程中的导向曲线,生成与各条导向曲线对应的测头中心点的运动轨迹曲线;由测头中心点的各运动轨迹曲线生成每个区域对应的测针尖端的名义扫描轨迹曲线,由每个区域对应的测针尖端的名义扫描轨迹曲线生成每个区域对应的测针尖端的实际扫描轨迹曲线;根据各区域内测针尖端的实际扫描轨迹曲线,采用预设测量顺序将所有区域的测针尖端的的实际扫描轨迹曲线串联起来,得到整个多孔曲面的连续式扫描测量轨迹,可以实现高效的测量轨迹。
搜索关键词: 多孔 自由 曲面 连续 扫描 测量 轨迹 规划 方法 系统
【主权项】:
1.一种多孔自由曲面连续式扫描测量轨迹规划方法,其特征在于,包括:/n(1)生成多孔自由曲面中的骨架线,将所得的各条骨架线作为测量轨迹规划过程中的导向曲线,生成与各条导向曲线对应的测头中心点的运动轨迹曲线,其中,每条骨架线均对应多孔自由曲面中的一个区域;/n(2)由测头中心点的各运动轨迹曲线生成每个区域对应的测针尖端的名义扫描轨迹曲线,由每个区域对应的测针尖端的名义扫描轨迹曲线生成每个区域对应的测针尖端的实际扫描轨迹曲线,其中,测针尖端的名义扫描轨迹曲线表示测针尖端实际扫描轨迹的参考曲线;/n(3)根据各区域内测针尖端的实际扫描轨迹曲线,采用预设测量顺序将所有区域的测针尖端的的实际扫描轨迹曲线串联起来,得到整个多孔曲面的连续式扫描测量轨迹。/n
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