[发明专利]等离子体射流速度的监测方法与设备有效

专利信息
申请号: 201910922191.X 申请日: 2019-09-26
公开(公告)号: CN110677968B 公开(公告)日: 2020-12-11
发明(设计)人: 曹进文;黄河激;孟显;潘文霞 申请(专利权)人: 中国科学院力学研究所
主分类号: H05H1/00 分类号: H05H1/00
代理公司: 北京维正专利代理有限公司 11508 代理人: 李传亮
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种等离子体射流速度的监测方法与设备,其方法包括:撷取层流等离子体的多个光图案,基于输出功率与等离子体的浓度正相关由所述光图案的发光边界确定等离子体射流的射流边界;基于所述等离子体射流由射流出口到射流末端的轴向射流边界,确定层流等离子体的射流长度;由所述层流等离子体的射流长度计算出等离子体的射流平均速度,在预定不同的弧电流射流速度保持不变下,建立层流等离子体的射流长度与弧电流的关系。本发明具有等离子体射流速度测量过程简化与降低系测量统设备建置成本的效果。
搜索关键词: 等离子体 射流 速度 监测 方法 设备
【主权项】:
1.一种等离子体射流速度的监测方法,其特征在于,包括:/n撷取层流等离子体的多个光图案(11),基于输出功率与等离子体的浓度正相关由所述光图案(11)的发光边界确定等离子体射流的射流边界(13);/n基于所述等离子体射流由射流出口(12)到射流末端的轴向射流边界(13),确定层流等离子体的射流长度;及/n由所述层流等离子体的射流长度计算出等离子体的射流平均速度,包括:在预定不同的弧电流射流速度保持不变下,建立层流等离子体的射流长度与弧电流的关系。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院力学研究所,未经中国科学院力学研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910922191.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top