[发明专利]一种三维堆叠对准方法有效
申请号: | 201910924309.2 | 申请日: | 2019-09-27 |
公开(公告)号: | CN110600415B | 公开(公告)日: | 2023-06-27 |
发明(设计)人: | 郁发新;冯光建;张兵;王志宇;陈华 | 申请(专利权)人: | 浙江大学 |
主分类号: | H01L21/68 | 分类号: | H01L21/68 |
代理公司: | 杭州天昊专利代理事务所(特殊普通合伙) 33283 | 代理人: | 董世博 |
地址: | 310058 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种三维堆叠对准方法,具体包括如下步骤:101)预处理步骤、102)初对准步骤、103)微调步骤、104)键合步骤、105)多层设置步骤;本发明提供达到较高的模组对准能力,节省成本且方便操作的一种三维堆叠对准方法。 | ||
搜索关键词: | 一种 三维 堆叠 对准 方法 | ||
【主权项】:
1.一种三维堆叠对准方法,其特征在于:具体包括如下步骤:/n101)预处理步骤:在对准底座上设置通气孔;通气孔的底部设置腔室,腔室联通覆盖对准底座上面所有的通气孔;腔室的底部设置排气孔与外部互联;排气孔中间设置气体流量监控装置;其中,在对准底座边缘设置可上下伸缩的平板做粗对准,平板移动精度在1um;平板围绕芯片周围分布设置;/n102)初对准步骤:将带通气孔的待键合芯片模组放置于对准底座上方,对准底座抽气固定芯片模组,完成初对准;/n103)微调步骤:撤走平板,在对准基座周围设置万分表对准板;用万分表对准板对芯片模组做微调,万分表对准板精度控制在0.1um;芯片模组的通气孔跟对准底座的通气孔联通,且通过气流监控装置判断芯片模组对准状况;/n104)键合步骤:撤去万分表对准板,对准底座进行升温,完成芯片模组的焊接;/n105)多层设置步骤:重复步骤101)到步骤104)在已经堆叠好的芯片模组上方堆叠其他芯片模组,最终形成多芯片模组的堆叠。/n
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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