[发明专利]微发光二极管检测器件、装置及制备方法在审
| 申请号： | 201910926819.3 | 申请日： | 2019-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN112573474A | 公开（公告）日： | 2021-03-30 |
| 发明（设计）人： | 梁志伟;罗雯倩;焦士搏;王峰;刘英伟 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | B81B7/02 | 分类号： | B81B7/02;B81C1/00;H01L21/66;H01L23/544 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 李迎亚;陈源 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明提供一种微发光二极管检测器件、装置及制备方法，属于显示技术领域，其可解决现有的直接对微发光二极管进行巨量转移并绑定，容易由于微发光二极管的损坏，影响显示面板的制作良率的问题。本发明的微发光二极管检测器件，包括：衬底、和贯穿衬底的第一通孔和第二通孔；衬底包括相对设置的第一面和第二面；第一通孔和第二通孔与待测的微发光二极管的第一极和第二极分别对应设置；还包括：位于衬底的第一面上的第一检测部和第二检测部。 | ||
| 搜索关键词： | 发光二极管 检测 器件 装置 制备 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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