[发明专利]半导体装置封装和用于制造半导体装置封装的方法在审

专利信息
申请号: 201910927134.0 申请日: 2019-09-27
公开(公告)号: CN112310030A 公开(公告)日: 2021-02-02
发明(设计)人: 李志成;陈光雄 申请(专利权)人: 日月光半导体制造股份有限公司
主分类号: H01L23/498 分类号: H01L23/498;H01L23/485;H01L21/48;H01L21/60
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 蕭輔寬
地址: 中国台湾高雄市楠梓*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 一种半导体装置封装包含第一电路层、第二电路层、第一半导体裸片及第二半导体裸片。所述第一电路层包含第一表面和与所述第一表面相对的第二表面。所述第二电路层安置在所述第一电路层的所述第一表面上。所述第一半导体裸片安置在所述第一电路层及所述第二电路层上,且电性连接到所述第一电路层和所述第二电路层。所述第二半导体裸片安置在所述第二电路层上,且电性连接到所述第二电路层。
搜索关键词: 半导体 装置 封装 用于 制造 方法
【主权项】:
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