[发明专利]一种推扫式成像光谱仪的几何定标装置有效
| 申请号： | 201910927740.2 | 申请日： | 2019-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN110487405B | 公开（公告）日： | 2021-10-08 |
| 发明（设计）人： | 孙慈;崔继承;姚雪峰;杨晋;冯树龙;宋楠;王明佳;李天骄 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 孙晓红 |
| 地址： | 130033 吉林省长春市*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种推扫式成像光谱仪的几何定标装置，包括光源系统、狭缝微动系统、准直系统和摆镜系统，其中：狭缝微动系统设于光源系统和准直系统之间，光源系统用以发出连续光至狭缝微动系统，狭缝微动系统用以调节进入准直系统的光线的入射角度，准直系统用以将经狭缝微动系统调节的光线转变为准直光线射入摆镜系统，摆镜系统用以调节进入待定标成像光谱仪的探测器的光线的入射角度。上述推扫式成像光谱仪的几何定标装置可以实现对待定标成像光谱仪单个像元的精细摆扫，从而完成对待定标成像光谱仪的几何定标，它可以解决由于配置相应设备而导致造价昂贵的问题，从而可以在一定程度上降低几何定标装置的研发成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 推扫式 成像 光谱仪 几何 定标 装置 | ||
【主权项】：
1.一种推扫式成像光谱仪的几何定标装置，其特征在于，包括光源系统(1)、狭缝微动系统(2)、准直系统(3)和摆镜系统(4)，其中：/n所述狭缝微动系统(2)设于所述光源系统(1)和所述准直系统(3)之间，所述光源系统(1)用以发出连续光至所述狭缝微动系统(2)，所述狭缝微动系统(2)用以调节进入所述准直系统(3)的光线的入射角度，所述准直系统(3)用以将经所述狭缝微动系统(2)调节的光线转变为准直光线射入所述摆镜系统(4)，所述摆镜系统(4)用以调节进入待定标成像光谱仪的探测器的光线的入射角度。/n
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