[发明专利]一种评价光学元件防霉防雾能力的方法

摘要

本发明公开了一种评价光学元件防霉防雾能力的方法，此方法步骤如下：a.光学元件表面接种菌种，并经培育形成光学防霉防雾测试片(4)；b.将光学防霉防雾测试片(4)装入测试夹具中形成杂散光测试件；c.测试杂散光测试件MTFs/MTF值；d.根据杂散光测试件MTFs/MTF值确定光学元件防霉防雾能力，MTFs/MTF值越接近1，则光学元件防霉防雾能力越强。本发明中测试夹具由镜筒(1)、左套筒(2)、左压环(3)、右压环(5)、右套筒(6)组成，左压环（3）、右压环（5）位于镜筒(1)内部的中间位置，左套筒(2)及右套筒(6)分别位于镜筒内部左压环（3）及右压环（5）的外侧。测试时光学防霉防雾测试片(4)被左压环(3)、右压环(5)固定。本发明公开的光学元件防霉防雾能力评价方法，成本低，易操作，可排除不同光学结构对测试结果的影响，定量评价光学元件的防霉防雾能力。