[发明专利]发光器件测试装置、系统及测试方法在审
| 申请号： | 201910934301.4 | 申请日： | 2019-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN112578307A | 公开（公告）日： | 2021-03-30 |
| 发明（设计）人： | 郭恩卿;王程功;田文亚;盖翠丽 | 申请（专利权）人： | 成都辰显光电有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/44 | 分类号： | G01R31/44;G01R1/06 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 钭飒飒;刘芳 |
| 地址： | 611731 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本申请提供一种发光器件测试装置、系统及测试方法，发光器件测试装置中包括驱动基板和多个用于与待测发光器件的电极端电性接触的测试电极；驱动基板中设置有与所述测试电极对应的驱动开关，所述测试电极与所述驱动开关电性连接；所述驱动基板还设置有与所述测试电极对应的柔性凸垫，所述测试电极设置于所述柔性凸垫上，利用该发光器件测试装置对待测发光器件进行测试时，柔性凸垫使测试电极与待测发光器件的电极端电性接触，远离驱动基板表面且对相互接触作用进行缓冲，提高了电性接触的可靠性，进而提高了测试可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 发光 器件 测试 装置 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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