[发明专利]一种地层反射杂乱程度的刻画方法及系统有效

专利信息
申请号: 201910937314.7 申请日: 2019-09-30
公开(公告)号: CN112578446B 公开(公告)日: 2023-04-11
发明(设计)人: 陈科;徐雷鸣;王鹏燕;邹森林;张杨;汪彩云 申请(专利权)人: 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油物探技术研究院
主分类号: G01V1/30 分类号: G01V1/30
代理公司: 北京知舟专利事务所(普通合伙) 11550 代理人: 潘聪聪
地址: 100728 北*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种地层反射杂乱程度的刻画方法及系统,该方法包括:S1、提取三维数据体的倾角和方位角属性;S2、提取所述三维数据体内任意点Dot(x,y,z)的小三维数据体;S3、将所述小三维数据体中每一点的倾角和方位角投影到极坐标系;S4、计算点Dot(x,y,z)到小三维数据体中任意一点Dot(i,j,k)的距离Dis(i,j,k);S5、计算点Dot(x,y,z)的杂乱度属性。本发明通过杂乱度属性反映反射杂乱程度,杂乱度值越大反射越杂乱,本发明能够剔除反射稳定的区域、识别地震剖面中反射比较杂乱的地方,有利于弱信号的识别。
搜索关键词: 一种 地层 反射 杂乱 程度 刻画 方法 系统
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油物探技术研究院,未经中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油物探技术研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910937314.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top