[发明专利]一种地层反射杂乱程度的刻画方法及系统有效
申请号: | 201910937314.7 | 申请日: | 2019-09-30 |
公开(公告)号: | CN112578446B | 公开(公告)日: | 2023-04-11 |
发明(设计)人: | 陈科;徐雷鸣;王鹏燕;邹森林;张杨;汪彩云 | 申请(专利权)人: | 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油物探技术研究院 |
主分类号: | G01V1/30 | 分类号: | G01V1/30 |
代理公司: | 北京知舟专利事务所(普通合伙) 11550 | 代理人: | 潘聪聪 |
地址: | 100728 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: |
本发明提供一种地层反射杂乱程度的刻画方法及系统,该方法包括:S1、提取三维数据体的倾角和方位角属性;S2、提取所述三维数据体内任意点Dot(x,y,z)的小三维数据体;S3、将所述小三维数据体中每一点的倾角和方位角投影到极坐标系;S4、计算点Dot(x,y,z)到小三维数据体中任意一点Dot(i,j,k)的距离Dis |
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搜索关键词: | 一种 地层 反射 杂乱 程度 刻画 方法 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
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