[发明专利]芯片测试系统以及芯片测试方法在审
| 申请号： | 201910939071.0 | 申请日： | 2019-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN112578262A | 公开（公告）日： | 2021-03-30 |
| 发明（设计）人： | 马茂松;林峰;许小峰 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙) 31294 | 代理人： | 孙佳胤 |
| 地址： | 230001 安徽省合肥市蜀山*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 该发明涉及一种芯片测试系统以及测试方法，能够满足日益增长的芯片测试需求。其中，所述芯片测试系统，包括：测试主板，设置有物理接口单元以及存储器控制器，所述测试主板用于根据待测试芯片的种类配置所述物理接口单元以及存储器控制器；测试子板，设置有芯片种类区分器及安装位，其中所述芯片种类区分器用于区分所述待测试芯片的种类，所述安装位用于安装所述待测试芯片；所述测试主板和测试子板电连接。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 系统 以及 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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