[发明专利]一种功率半导体器件结构及其封装方法在审

专利信息
申请号: 201910942830.9 申请日: 2019-09-30
公开(公告)号: CN110828395A 公开(公告)日: 2020-02-21
发明(设计)人: 邱宇峰;吴军民;杜玉杰;张雷;李金元;任慧鹏 申请(专利权)人: 全球能源互联网研究院有限公司
主分类号: H01L23/31 分类号: H01L23/31;H01L23/488;H01L25/07;H01L21/56;H01L21/60
代理公司: 北京安博达知识产权代理有限公司 11271 代理人: 徐国文
地址: 102209 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种功率半导体器件结构及其封装方法,结构包括集电极钼板、至少一个芯片组件、栅极组件和塑封介质;至少一个芯片组件和栅极组件分别固定在集电极钼板上,塑封介质通过塑封工艺将至少一个芯片组件和栅极组件进行包覆,每个芯片组件包括功率半导体器件,不仅可靠性高,且能够满足芯片并联压力均衡的一致性要求;本发明通过塑封工艺将芯片组件和栅极组件包覆在塑封介质中,不仅改善了功率半导体器件保护的可靠性和绝缘性,且解决了高压绝缘配合和功率半导体器件保护的问题,避免了零部件位置发生偏移或零部件之前出现微缝隙,保证了器件的一致性,满足高压半导体芯片的封装需求;提高了功率半导体器件的长期可靠性。
搜索关键词: 一种 功率 半导体器件 结构 及其 封装 方法
【主权项】:
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