[发明专利]用于测试电子元件的处理器有效
| 申请号： | 201910951013.X | 申请日： | 2019-10-08 |
| 公开（公告）号： | CN111077403B | 公开（公告）日： | 2022-12-06 |
| 发明（设计）人： | 金东一;河成圆 | 申请（专利权）人： | 泰克元有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/01 | 分类号： | G01R31/01;G01R31/26;B65D81/18 |
| 代理公司： | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人： | 吴昌教;崔炳哲 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及用于测试电子元件的处理器。本发明的用于测试电子元件的处理器将一个特定传送装置负责传送的传送区间分为第一负责区间和第二负责区间，并且使得在第一负责区间传送时握持测试托盘的部位和在第二负责区间传送时握持测试托盘的部位不同，当一起测试装载于多个测试托盘的多个电子元件时，多个测试托盘在相应的传送区间能够彼此独立且同时传送。根据本发明，简化和减少传送装置的结构，从而具有降低生产成本和减小设备的尺寸的效果。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 电子元件 处理器 | ||
【主权项】：
暂无信息
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