[发明专利]一种有机分子对硅表面钝化效果的预测方法在审
| 申请号： | 201910951655.X | 申请日： | 2019-10-09 |
| 公开（公告）号： | CN110648728A | 公开（公告）日： | 2020-01-03 |
| 发明（设计）人： | 郭建新;孟子杰;刘晨旭;蒋佳月;王亚茹;刁艳如;陈剑辉;梁伟华 | 申请（专利权）人： | 河北大学 |
| 主分类号： | G16C60/00 | 分类号： | G16C60/00 |
| 代理公司： | 13112 石家庄国域专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 黄慧慧 |
| 地址： | 071002 河北*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种有机分子对硅表面钝化效果的预测方法，其采用基于密度泛函的第一性原理方法进行预测，包括：建立有机分子与硅表面的吸附模型，计算吸附能，确定有机分子钝化硅表面时的稳定钝化结构；计算稳定钝化结构界面的电子结构属性、电荷转移情况和成键情况；判断硅表面原子的钝化比例和硅表面原子的钝化强度，预测钝化效果。本发明的预测方法可以快速判断钝化结构，还可以用于寻找并设计合适的有机钝化材料，指导实验的合成，节约时间及成本，减少了实验过程的人为因素和环境因素的干扰，可靠性高，重现性好。 | ||
| 搜索关键词： | 硅表面 钝化结构 有机分子 钝化 预测 吸附 第一性原理 硅表面钝化 电荷转移 电子结构 钝化效果 环境因素 计算稳定 快速判断 人为因素 实验过程 有机钝化 重现性 成键 泛函 合成 节约 | ||
【主权项】：
1.一种有机分子对硅表面钝化效果的预测方法，其特征在于，采用基于密度泛函的第一性原理方法进行预测，包括如下步骤：/n（a）建立有机分子与硅表面的吸附模型，计算吸附能，确定有机分子钝化硅表面时的稳定钝化结构；/n（b）计算稳定钝化结构界面的电子结构属性、电荷转移情况和成键情况；/n（c）根据步骤（a）的结果判断硅表面原子的钝化比例，根据步骤（b）的结果判断硅表面原子的钝化强度，之后预测钝化效果。/n
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