[发明专利]一种通过改进的非接触式光学干涉法测定软黏体粗糙度的方法有效
| 申请号： | 201910954383.9 | 申请日： | 2019-10-09 |
| 公开（公告）号： | CN110631520B | 公开（公告）日： | 2023-08-01 |
| 发明（设计）人： | 杨苏春 | 申请（专利权）人： | 青岛科信信息科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/30 | 分类号： | G01B11/30 |
| 代理公司： | 北京中济纬天专利代理有限公司 11429 | 代理人： | 赵园园 |
| 地址： | 266000 *** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测定软黏体粗糙度的方法，包括下列步骤：（1）通过改进的非接触式光学干涉法，测量受法向力状态下的不同目数的砂纸表面，利用光洁透明传压板对不同目数的砂纸传递不同法向力，将砂纸界面的实际表面轮廓问题转化为构成轮廓所需微凸体的高度分布，根据砂纸表面微凸体的高度分布导出砂纸粗糙度概率密度函数，作为标准粗糙度；（2）通过改进的非接触式光学干涉，在与（1）相同的方法对软黏体的表面轮廓进行测量，并根据软黏体表面微凸体的高度分布导出软黏体粗糙度概率密度函数；（3）将步骤（2）得到的结果代入步骤（1）中进行对比，得到的数值与哪个目数砂纸的相符合，即定义黏性土粗糙度为该目数。本发明首次确定了软黏体粗糙度的方法，并将软黏体的粗糙度代换为标准砂纸的粗糙度，推进了粗糙度的标准化表达；采用非接触的方式测量粗糙度，可以最大限度的还原受力时软黏体的原始表面轮廓。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 通过 改进 接触 光学 干涉 测定 软黏体 粗糙 方法 | ||
【主权项】：
1.一种通过改进的非接触式光学干涉测定软黏体粗糙度的方法，其特征在于，包括下列步骤：/n（1）通过改进的非接触式光学干涉法，利用光洁、平整且透明的传压板对不同目数的砂纸传递不同法向力，在不撤除传压板的情况下测定受压时砂纸界面的表面轮廓，将砂纸界面的实际表面轮廓问题转化为构成轮廓所需微凸体的高度分布，根据砂纸表面微凸体的高度分布导出砂纸粗糙度概率密度函数，作为标准粗糙度；/n（2）通过非接触式光学干涉，在与（1）相同的方法对软黏体的表面轮廓进行测量，并根据软黏体表面微凸体的高度分布导出软黏体粗糙度概率密度函数；/n（3）将步骤（2）得到的结果代入步骤（1）中进行对比，得到的数值与哪个目数砂纸的相符合，即定义软黏体粗糙度为该目数。/n
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