[发明专利]三维半导体存储器件在审

专利信息
申请号: 201910954716.8 申请日: 2019-10-09
公开(公告)号: CN111370417A 公开(公告)日: 2020-07-03
发明(设计)人: 崔康润;李东植;金钟源;李吉成;赵恩锡;崔炳镕;黄盛珉 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L27/11529 分类号: H01L27/11529;H01L27/11531;H01L27/11556;H01L27/11573;H01L27/11582
代理公司: 北京市立方律师事务所 11330 代理人: 李娜;王占杰
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种三维半导体存储器件包括:衬底,所述衬底包括单元阵列区域和连接区域,所述衬底包括形成在所述连接区域上的虚设沟槽;电极结构,所述电极结构位于所述衬底上并且包括在所述连接区域上具有阶梯结构竖直堆叠的电极;虚设绝缘结构,所述虚设绝缘结构设置在所述虚设沟槽中,所述虚设绝缘结构包括与所述衬底和所述电极结构间隔开的蚀刻停止图案;单元沟道结构,所述单元沟道结构设置在所述单元阵列区域上,并且穿过所述电极结构且与所述衬底接触;以及虚设沟道结构,所述虚设沟道结构设置在所述连接区域上,并且穿过所述电极结构和所述虚设绝缘结构的一部分且与所述蚀刻停止图案接触。
搜索关键词: 三维 半导体 存储 器件
【主权项】:
暂无信息
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