[发明专利]光器件损伤检测方法、装置、电子设备及可读存储介质在审
申请号: | 201910956567.9 | 申请日: | 2019-10-09 |
公开(公告)号: | CN110646515A | 公开(公告)日: | 2020-01-03 |
发明(设计)人: | 马文静;张军伟;徐振源;向勇;陈良明;胡东霞;袁强;袁晓东;周丽丹;李可欣;房奇 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
主分类号: | G01N29/14 | 分类号: | G01N29/14;G01N29/44 |
代理公司: | 11463 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) | 代理人: | 徐彦圣 |
地址: | 621000 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本申请提供一种光器件损伤检测方法、装置、电子设备及可读存储介质,通过获取待测光器件运行时的产生的声传播信号,对声传播信号进行处理,得到声传播信号的特征参数,进而基于特征参数确定出待测光器件中的声传播信号源的类型、强度及活度,最后基于声传播信号源的类型、强度及活度确定出待测光器件的损伤类型及损伤程度。这样,利用元件在存在物理损伤时,运行过程中会产生声传播信号的特点,通过对声传播信号进行采集、处理,从而实现对待测光器件的损伤类型及损伤程度的确定。相较于相关技术而言,不需要进行光器件的拆卸,限制条件更少,检测效率更高。 | ||
搜索关键词: | 声传播 测光器件 损伤 特征参数 光器件 信号源 活度 可读存储介质 信号进行处理 电子设备 损伤检测 物理损伤 限制条件 运行过程 运行时 拆卸 采集 检测 申请 | ||
【主权项】:
1.一种光器件损伤检测方法,其特征在于,包括:/n获取待测光器件运行时产生的声传播信号;/n对所述声传播信号进行处理,得到所述声传播信号的特征参数;/n基于所述特征参数确定出所述待测光器件中的声传播信号源的类型、强度及活度;/n基于所述声传播信号源的类型、强度及活度确定所述待测光器件的损伤类型及损伤程度。/n
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