[发明专利]基于固态点源模拟短寿命气态源的符合探测效率刻度方法有效
| 申请号： | 201910956613.5 | 申请日： | 2019-10-10 |
| 公开（公告）号： | CN110727011B | 公开（公告）日： | 2021-02-02 |
| 发明（设计）人： | 赵越;屈国普;张文利 | 申请（专利权）人： | 南华大学 |
| 主分类号： | G01T1/167 | 分类号： | G01T1/167;G21C17/00 |
| 代理公司： | 长沙正奇专利事务所有限责任公司 43113 | 代理人： | 张珉瑞;李美丽 |
| 地址： | 421001 *** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于固态点源模拟短寿命气态源的符合探测效率刻度方法，包括以下步骤：步骤A，确定代替气体源的固态标准点源，该固态标准点源发出的射线与所述气体源发出的射线性质相同；步骤B，将取样容器划分为若干个小体积元；步骤C，依次将固态标准点源放在各小体积元的中心，并计算固态标准点源在每个小体积元处时的符合探测效率；步骤D，对各小体积元处的符合探测效率进行加权求和，得到整个取样容器的符合探测效率。本发明为符合监测系统(监测仪)生产厂家或用户单位提供一种新的对短寿命气体核素进行符合探测效率刻度的方法，成本低，操作简单。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 固态 模拟 寿命 气态 符合 探测 效率 刻度 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于固态点源模拟短寿命气态源的符合探测效率刻度方法，其特征在于，包括以下步骤：/n步骤A，确定代替气体源的固态标准点源，该固态标准点源发出的射线与所述气体源发出的射线性质相同；/n步骤B，将取样容器划分为若干个小体积元；/n步骤C，依次将固态标准点源放在各小体积元的中心，并计算固态标准点源在每个小体积元处时的符合探测效率；/n步骤D，对各小体积元处的符合探测效率进行加权求和，得到整个取样容器的符合探测效率。/n
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