[发明专利]均质矿物显微透射高光谱图像的自动识别方法在审
| 申请号： | 201910969408.2 | 申请日： | 2019-10-12 |
| 公开（公告）号： | CN110672606A | 公开（公告）日： | 2020-01-10 |
| 发明（设计）人： | 黄映聪;刘静;宋志杰;刘成东;何月顺;吴伟成;周万蓬;姜勇彪 | 申请（专利权）人： | 东华理工大学 |
| 主分类号： | G01N21/84 | 分类号： | G01N21/84;G01N21/27 |
| 代理公司： | 11823 北京鼎德宝专利代理事务所(特殊普通合伙) | 代理人： | 牟炳彦 |
| 地址： | 330013 江西*** | 国省代码： | 江西;36 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种均质矿物显微透射高光谱图像的自动识别方法，将制备完成的岩矿样品薄片，放置于光学显微镜的载物台上；使用高光谱相机通过显微镜对岩矿样品薄片进行自动拍摄，测量图像中每种均质矿物的高光谱透射率波谱曲线，建立均质矿物的高光谱透射率波谱数据库，作为均质矿物自动识别的标准；将待测岩矿样品薄片放置于光学显微镜下进行矿物光学显微透射高光谱图像的自动拍摄和存储，提取其中的均质矿物颗粒，测量其高光谱透射率波谱曲线；根据图像中矿物颗粒的高光谱透射率曲线，以已经建立好的均质矿物透射高光谱数据库为标准对其进行识别，并将识别出来的不同种矿物着上不同的伪彩色以示区别，由此完成均质矿物的识别。本发明能够准确、有效的识别岩矿样品薄片的均质矿物。 | ||
| 搜索关键词： | 矿物 均质 样品薄片 高光谱 岩矿 透射率 透射 高光谱图像 光学显微镜 波谱曲线 矿物颗粒 自动拍摄 自动识别 显微 测量 图像 高光谱数据库 波谱数据库 高光谱相机 透射率曲线 伪彩色 显微镜 载物 制备 存储 | ||
【主权项】：
1.一种均质矿物显微透射高光谱图像的自动识别方法，其特征在于，包括：/n步骤1、将制备完成的岩矿样品薄片，放置于光学显微镜的载物台上；/n步骤2、将高光谱相机与光学显微镜相连，打开光学显微镜电源和高光谱相机，按光学显微镜操作规范进行样品光片的聚焦；/n步骤3、聚焦完成后，使用高光谱相机对岩矿样品进行自动拍摄，将拍摄的显微透射高光谱图像存储于计算机中；/n步骤4、打开拍摄的高光谱图像，测量其中每种均质矿物的显微透射高光谱波谱曲线，建立均质矿物的显微高光谱透射率波谱数据库，并将其植入由Python开发的矿物自动识别系统中，作为均质矿物自动识别的标准；/n步骤5、将待测岩矿样品薄片放置于光学显微镜下进行矿物光学显微透射高光谱图像的自动拍摄和存储；/n步骤6、使用矿物自动识别系统自动打开存储的待测岩矿样品薄片的显微透射高光谱图像，提取其中的均质矿物颗粒，测量其显微透射高光谱波谱曲线；/n步骤7、根据图像中矿物颗粒的显微高光谱透射率波谱曲线，以已经建立好的矿物透射高光谱波谱数据库为标准对其进行识别，并将识别出来的不同种矿物着上不同的伪彩色以示区别，由此完成均质矿物的自动识别。/n
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