[发明专利]三维存储器结构及其制备方法有效
申请号: | 201910970318.5 | 申请日: | 2019-10-12 |
公开(公告)号: | CN110808249B | 公开(公告)日: | 2022-10-11 |
发明(设计)人: | 左明光;万先进;朱宏斌 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
主分类号: | H01L27/11524 | 分类号: | H01L27/11524;H01L27/11556;H01L27/1157;H01L27/11582 |
代理公司: | 北京汉之知识产权代理事务所(普通合伙) 11479 | 代理人: | 陈敏 |
地址: | 430074 湖北省武汉市洪山区东*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种三维存储器结构及其制备方法,制备方法包括:提供半导体衬底;于半导体衬底上形成叠层结构,于叠层结构中形成沟道孔及栅极隔槽,栅极隔槽包括N个上下连通设置的子栅极隔槽,N为大于等于2的整数。本发明将三维存储器的栅极隔槽制备成包括至少两个子栅极隔槽上下连通设置的结构,多个所述子栅极隔槽的设置,使得单个子栅极隔槽的制备易于控制,可以减小其关键尺寸,进一步增加沟道孔与栅极隔槽之间的距离,可以增加后续栅极层的长度,减小栅极层的电阻,提高器件速度,优化器件性能。在栅极隔槽中制备栅极隔槽腔,从而可以缓解材料层带来的应力,缓解整个器件结构的应力,并可以减小器件电阻,提高器件性能。 | ||
搜索关键词: | 三维 存储器 结构 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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