[发明专利]一种基于极限探测星等灵敏度的星敏感器辐射损伤评估方法有效
申请号: | 201910971792.X | 申请日: | 2019-10-14 |
公开(公告)号: | CN110702097B | 公开(公告)日: | 2023-01-03 |
发明(设计)人: | 冯婕;李豫东;文林;周东;张巍;郭旗 | 申请(专利权)人: | 中国科学院新疆理化技术研究所 |
主分类号: | G01C21/02 | 分类号: | G01C21/02;G01C25/00;G01J1/44 |
代理公司: | 乌鲁木齐中科新兴专利事务所(普通合伙) 65106 | 代理人: | 张莉 |
地址: | 830011 新疆维吾尔*** | 国省代码: | 新疆;65 |
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摘要: | 本发明涉及一种基于极限探测星等灵敏度的星敏感器辐射损伤评估方法,该方法中涉及装置是由静电试验平台、积分球光源、样品调整转台、样品测试板、互补金属氧化物半导体有源像素传感器样品、直流电源、计算机、平行光管、自准直经纬仪、单星模拟器和成像镜头组成,利用自准直经纬仪将固定在样品测试板上的成像镜头和平行光管对齐在一条直线上,然后将单星模拟器调到5等星,通过成像镜头对模拟单星星点成像,同时调节光学镜头,使星点成像清晰,再通过暗场测试和亮场测试,计算得到不同累积辐射剂量下不同星等的单个星点信噪比SNR,即得到了不同累积辐射剂量下星敏感器的极限探测星等灵敏度。通过本发明所述方法可以准确评估星敏感器在不同累积辐射剂量下辐射损伤,方法简单快速,实用性强。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 极限 探测 星等 灵敏度 敏感 辐射损伤 评估 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于极限探测星等灵敏度的星敏感器辐射损伤评估方法,其特征在于,该方法中涉及装置是由静电试验平台、积分球光源、样品调整转台、样品测试板、互补金属氧化物半导体有源像素传感器样品、直流电源、计算机、平行光管、自准直经纬仪、单星模拟器和成像镜头组成,在静电试验平台(1)上分别设有积分球光源(2)和样品调整转台(3),在样品调整转台(3)上固定有样品测试板(4),在样品测试板(4)上放置互补金属氧化物半导体有源像素传感器样品(5),在样品测试板(4)上固定成像镜头(11),样品测试板(4)分别与积分球光源(2)和直流电源(6)连接,在静电试验平台(1)的两侧分别设有平行光管(8)、自准直经纬仪(9)和单星模拟器(10),平行光管(8)与单星模拟器(10)连接,自准直经纬仪(9)和平行光管(8)对准,静电试验平台(1)与计算机(7)连接,具体操作按下列步骤进行:/na、利用自准直经纬仪(9)将固定在样品测试板(4)上的成像镜头(11)与平行光管(8)对齐在一条直线上;/nb、将经过辐照后的互补金属氧化物半导体有源像素传感器样品(5)固定在样品测试板(4)上,再将样品测试板(4)分别与直流电源(6)和计算机(7)相连,将单星模拟器(10)调到5等星,通过成像镜头(11)对模拟单星星点成像,同时调节光学镜头,使星点成像清晰;/nc、开始进行暗场测试,暗场测试时需关闭测试室中所有照明光源,计算机采集50幅星图,将这50幅星图的背景灰度值取平均值,得到星图的背景散粒噪声
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