[发明专利]一种保护集成电路测试连接线的方法在审
| 申请号： | 201910977693.2 | 申请日： | 2019-10-15 |
| 公开（公告）号： | CN110763978A | 公开（公告）日： | 2020-02-07 |
| 发明（设计）人： | 向彦瑾 | 申请（专利权）人： | 四川豪威尔信息科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 11411 北京联瑞联丰知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 黄冠华 |
| 地址： | 621000 四川省绵阳市*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种保护集成电路测试连接线的方法，包括检测设备和保护设备，所述检测设备的内部固定连接有集成电路，包括以下步骤：步骤一、将连接线穿过保护套，并且对连接线进行整理，步骤二、将保护套和连接线穿过保护设备，并且将连接线的两端与检测设备和其余设备进行连接，步骤三、将保护设备与检测设备通过电缆线进行连接，然后对保护设备进行重置和调试，步骤四、在检测集成电路的时，每隔15s～30s观察一次保护设备，本发明涉及集成电路测试技术领域。该保护集成电路测试连接线的方法，在连接线的外侧套设有保护套，对连接线暴露在外侧的部位进行良好的保护，并且可以防止电线发生缠绕、重叠或被外力破坏等问题。 | ||
| 搜索关键词： | 连接线 保护设备 检测设备 集成电路测试 集成电路 一次保护设备 穿过 连接线暴露 内部固定 外力破坏 电缆线 重置 缠绕 调试 电线 检测 观察 | ||
【主权项】：
1.一种保护集成电路测试连接线的方法，包括检测设备(1)和保护设备(2)，所述检测设备(1)的内部固定连接有集成电路，其特征在于：包括以下步骤：/n步骤一、将连接线穿过保护套(3)，并且对连接线进行整理，使连接线在保护套(3)的内部呈一排排列，并且在保护套(3)两端与连接线连接的位置进行密封处理；/n步骤二、将保护套(3)和连接线穿过保护设备(2)，并且将连接线的两端与检测设备(1)和其余设备进行连接，并且将连接线位于保护套(3)外侧的部位安装到检测设备(1)和其余设备的内部，最后将保护套(3)的两端与连接线相连的设备进行固定；/n步骤三、将保护设备(2)与检测设备(1)通过电缆线进行连接，然后对保护设备(2)进行重置和调试，在调试完成后，将保护设备(2)检测的初始信息进行记录，并且将初始信息与标准值进行对比，将误差控制在±8％以内；/n步骤四、在检测集成电路的时，每隔15s～30s观察一次保护设备(2)，并且每隔1min～3min记录一次保护设备(2)的监控信息。/n
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