[发明专利]一种PCIE设备的调试装置和方法在审
| 申请号： | 201910977753.0 | 申请日： | 2019-10-15 |
| 公开（公告）号： | CN111124977A | 公开（公告）日： | 2020-05-08 |
| 发明（设计）人： | 朱敏;吴汉明 | 申请（专利权）人： | 芯创智（北京）微电子有限公司 |
| 主分类号： | G06F13/42 | 分类号： | G06F13/42 |
| 代理公司： | 北京天悦专利代理事务所(普通合伙) 11311 | 代理人： | 田明;屈献庄 |
| 地址： | 100176 北京市大兴区北京经济*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种PCIE设备的调试装置和调试方法。现有的调试与测试装置，只能抓取PCIE数据包与分析数据，缺少可控的能够精确产生PCIE数据包激励的机制，无法对PCIE底层协议进行调试，缺乏在PCIE设备，特别是PCIE芯片，设计与测试过程中的可控调试手段。本发明所述的装置及方法可以对PCIE设备底层协议进行调试与测试，通过主机端的通信模块，可以精确控制产生PCIE存储、IO、配置与消息包，并可以读取链路训练、测试、枚举、事务收发过程中的状态信息与数据。采用本发明所述装置和方法可实现PCIE设备特别是底层协议的可控调试，提高调试准确性和效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 pcie 设备 调试 装置 方法 | ||
【主权项】：
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