[发明专利]智能缺陷识别系统在审
| 申请号： | 201910978701.5 | 申请日： | 2019-10-15 |
| 公开（公告）号： | CN111060512A | 公开（公告）日： | 2020-04-24 |
| 发明（设计）人： | K·D·洛肯;陈志煜;G·肯克尔 | 申请（专利权）人： | 希捷科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01N21/956 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 何焜;陈依心 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本申请公开了智能缺陷识别系统。可以使用具有至少服务器的系统智能地识别电子组件中的各种缺陷，该服务器连接到第一捕获模块和第二捕获模块。第一捕获模块可以位于第一生产线附近，且第二捕获模块位于第二生产线附近。在将图像发送到服务器的分类模块之前，可以通过相应的第一捕获模块和第二捕获模块收集第一电子组件和第二电子组件的图像，在该服务器中，利用分类模块同时在第一电子组件和第二电子组件的每一个中自动地检测到至少一个缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 智能 缺陷 识别 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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