[发明专利]一种PECVD方式生长致密薄膜的方法在审

专利信息
申请号: 201910981152.7 申请日: 2019-10-16
公开(公告)号: CN110684966A 公开(公告)日: 2020-01-14
发明(设计)人: 范思大;崔虎山;邹志文;丁光辉;邹荣园;吴志浩;许开东;陈璐 申请(专利权)人: 江苏鲁汶仪器有限公司
主分类号: C23C16/56 分类号: C23C16/56;C23C16/22;C23C16/505
代理公司: 32200 南京经纬专利商标代理有限公司 代理人: 黄欣
地址: 221300 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种PECVD方式生长致密薄膜的方法,首先是通过PECVD方式沉积介质薄膜后,采用惰性气体轰击上述介质薄膜的方式增加薄膜致密性;所述惰性气体选自氩气(Ar)、氦气(He)、氙气(Xe)、氖气(Ne)、氢气(H
搜索关键词: 惰性气体 介质薄膜 沉积 轰击 薄膜 致密薄膜 氮气 惰性等离子体 薄膜致密性 等离子能量 氩气 循环模式 增强薄膜 氢气 氢原子 悬挂键 致密性 生长 氦气 氖气 热台 吸附 氙气 修复
【主权项】:
1.一种PECVD方式生长致密薄膜的方法,其特征在于:通过PECVD方式预沉积介质薄膜后,再采用惰性气体轰击上述介质薄膜的方式增强薄膜致密性;/n所述惰性气体选自氩气、氦气、氙气、氖气、氢气、氮气或以上气体的任意组合。/n
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