[发明专利]一种测量等离子体电子非广延参数的方法有效
| 申请号： | 201910985875.4 | 申请日： | 2019-10-18 |
| 公开（公告）号： | CN110740558B | 公开（公告）日： | 2021-05-07 |
| 发明（设计）人： | 邱慧斌;周振宇;刘三秋 | 申请（专利权）人： | 南昌大学 |
| 主分类号： | H05H1/00 | 分类号： | H05H1/00 |
| 代理公司： | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 | 代理人： | 袁红梅 |
| 地址： | 330000 江西省*** | 国省代码： | 江西;36 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种测量等离子体电子非广延参数的方法，采用非广延统计力学和电探针测量等离子体非广延参数。本发明将等离子体由非广延统计力学描述，并在此基础上建立非广延电单探针(测量)理论。应用非广延电单探针我们测得了传统电单探针无法测得的电子非广延参数，并且获得了较传统单探针更精确的电子温度、等离子体电位、电子密度和悬浮电位。通过本发明的技术方案，非广延电探针在等离子体诊断中发挥作用，将测量等离子体非广延性，并提高其它等离子体参数的诊断精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 等离子体 电子 非广延 参数 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测量等离子体电子非广延参数的方法，其特征在于，采用非广延统计力学和电探针测量等离子体非广延参数。/n
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