[发明专利]一种无外引出线芯片级器件测试平台及其使用方法在审
| 申请号： | 201910987205.6 | 申请日： | 2019-10-17 |
| 公开（公告）号： | CN110673018A | 公开（公告）日： | 2020-01-10 |
| 发明（设计）人： | 蔡建荣;邱忠文;秦国林;罗俊;吴兆希;李晓红;谭骁洪;杨勇;杨迁;朱朝轩 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第二十四研究所 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 50215 重庆辉腾律师事务所 | 代理人： | 王海军 |
| 地址： | 400060 *** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明属于自动化测试技术领域，特别是一种无外引出线芯片级器件测试平台；本平台包括导轨支架、探针组件、器件固定底板以及平台底座；导轨支架包括一个载物台、两根金属杆和U型框架，载物台活动设置在金属杆上，金属杆的一端与U型框架顶部连接，另一端穿过探针组件与U型框架底部连接；探针组件包括测试探针定位板和测试探针；载物台与测试探针定位板固定连接；平台底座、器件固定底板以及导轨支架三者固定连接；本发明采用探针测试方式对芯片级器件进行测试，能够有效的接触被测器件的测试点，同时不会造成器件的短路，解决了原先对无外引出线的微小器件无法进行测试的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 测试探针 导轨支架 探针组件 载物台 固定底板 平台底座 金属杆 芯片级 引出线 自动化测试技术 定位板固定 两根金属杆 测试 被测器件 底部连接 活动设置 器件测试 探针测试 微小器件 测试点 定位板 短路 穿过 | ||
【主权项】：
1.一种无外出引线芯片级器件测试平台，其特征在于：测试平台包括导轨支架(1)、探针组件(2)、器件固定底板(3)以及平台底座(4)；/n所述导轨支架(1)包括一个载物台(17)、两根金属杆(14)以及一个U型框架(18)，载物台(17)活动设置在两根金属杆(14)上；两根金属杆(14)的一端与U型框架(18)的顶部连接，另一端穿过探针组件(2)与U型框架(18)底部连接；探针组件(2)设置在载物台(17)上；/n所述器件固定底板(3)包括L型定位调节板(31)、一字型定位调节板(32)、器件定位板(33)和底板(37)，L型定位调节板(31)和一字型定位调节板(32)活动设置在底板(37)上，且将器件定位板(33)放置在探针组件(2)的下面；器件定位板(33)上设置有器件定位孔(331)；底板(37)固定连接在U型框架(18)的底部；/n器件固定底板(3)和导轨支架(1)固定设置在平台底座(4)上。/n
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