[发明专利]确定有机发光器件的效率劣化的方法和显示器系统

摘要

本发明涉及确定有机发光器件的效率劣化的方法和显示器系统。其中，所述方法包括：根据多个不同应力条件来电驱动与选定的有机发光器件类似的多个有机发光器件中的有机发光器件；针对每个有机发光器件，周期性地测量电学运行参数，并且使用光传感器周期性地测量效率劣化，生成相对应的针对不同应力条件的测量结果，光传感器在基于阵列的半导体器件上并且在包括有机发光器件的像素阵列的像素中或者与该像素相邻；基于电学运行参数基准，测量选定的有机发光器件的电学运行参数的变化；确定选定的有机发光器件的应力条件；以及使用针对不同应力条件的测量结果、电学运行参数的变化，以及所确定的应力条件来确定选定的有机发光器件的效率劣化。

主权项

1.一种用于确定基于阵列的半导体器件中的选定的有机发光器件的效率劣化的方法，所述半导体器件具有像素阵列，所述像素包括所述有机发光器件，所述方法包括：/n根据相应的多个不同应力条件来电驱动所述像素阵列的多个有机发光器件中的有机发光器件，所述多个有机发光器件基本上类似于所述选定的有机发光器件；/n针对所述多个有机发光器件中的每个有机发光器件，周期性地测量所述有机发光器件的电学运行参数，并且使用光传感器和所述光传感器的输出来周期性地测量所述有机发光器件的效率劣化，生成与所述有机发光器件相对应的针对所述不同应力条件的测量结果，所述光传感器在所述基于阵列的半导体器件上并且在包括所述有机发光器件的所述像素阵列的像素中或者与包括所述有机发光器件的所述像素阵列的所述像素相邻；/n基于电学运行参数基准，测量所述选定的有机发光器件的所述电学运行参数的变化；/n确定所述选定的有机发光器件的应力条件；以及/n使用针对所述不同应力条件的所述测量结果、所测量的所述选定的有机发光器件的所述电学运行参数的所述变化，以及所确定的所述应力条件来确定所述选定的有机发光器件的所述效率劣化。/n