[发明专利]集成电路直流参数测试的测量单元电路在审
| 申请号： | 201910996001.9 | 申请日： | 2019-10-18 |
| 公开（公告）号： | CN110940909A | 公开（公告）日： | 2020-03-31 |
| 发明（设计）人： | 张为;王佳琪 | 申请（专利权）人： | 天津大学 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人： | 刘国威 |
| 地址： | 300072*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明属于集成电路测试领域，为进行集成电路直流参数测试的精密测量单元电路测试，准确对被测器件施加电压/电流和测量相应的响应电压/电流值，具有工作速度快、精度高、成本低且系统可移植性强的优点。为此，本发明，集成电路直流参数测试的测量单元电路，由现场可编程门阵列FPGA、模/数转换器ADC、数/模转换器DAC、运算放大器、功率放大器和继电器开关构成，FPGA根据输入的指令经DAC、运算放大器、功率放大器给被测器件施加激励值，被测器件对所述激励做出的响应经ADC发送给FPGA，由FPGA输出测试结果，继电器开关用来完成对电路测量模式切换和量程选择的控制。本发明主要应用于集成电路测试场合。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 直流 参数 测试 测量 单元 电路 | ||
【主权项】：
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