[发明专利]一种基于无相位近场测量的天线辐射特性获取方法有效
| 申请号： | 201911001780.0 | 申请日： | 2019-10-21 |
| 公开（公告）号： | CN110988499B | 公开（公告）日： | 2020-11-03 |
| 发明（设计）人： | 谢志祥;张云华;何思远;朱国强;王继红 | 申请（专利权）人： | 武汉大学 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人： | 魏波 |
| 地址： | 430072 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于无相位近场测量的天线辐射特性获取方法，首先，在距离待测天线不远处的近场区，获取闭合曲面上所有采样点的电场幅度信息，接着，通过球面波展开理论，建立起近场区某一球面上电场分布和测量面上幅度数据的两种非线性关系；最后，利用遗传算法“猜测”出近场区目标球面上的电场分布；当算法停止迭代优化时，该待猜测的球面切向电场分布将基本接近理想结果，此时利用球面波模式展开理论计算出待优化球面上的加权系数，通过球面近远场变换求得远场；本发明提供了一种适应于各类规格天线测量技术。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 相位 近场 测量 天线 辐射 特性 获取 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉大学，未经武汉大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201911001780.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
