[发明专利]一种基于圆光栅径向剪切干涉仪的三维位移测量方法有效
| 申请号： | 201911003526.4 | 申请日： | 2019-10-22 |
| 公开（公告）号： | CN110608677B | 公开（公告）日： | 2021-04-06 |
| 发明（设计）人： | 王佳;吴慎将;苏俊宏;李党娟;张维光;程军霞;王佳超;刘荣明 | 申请（专利权）人： | 西安工业大学 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02 |
| 代理公司： | 西安新思维专利商标事务所有限公司 61114 | 代理人： | 黄秦芳 |
| 地址： | 710032 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种基于圆光栅径向剪切干涉仪的三维位移测量方法。现有的基于莫尔条纹方法的三维位移测量过程中需要移动探测器，无法实现瞬时测量，并且会引入探测器位置误差。本发明采用的装置包括圆光栅径向剪切干涉仪、半圆环形的空间滤波器和二维图像探测器。首先，利用半圆环形空间滤波器在径向剪切干涉仪的频谱面上对1级频谱的一半进行滤波，二维图像探测器位于径向剪切干涉仪的成像面上，可以同时获得+1和‑1衍射级次的莫尔条纹图像。然后，对莫尔条纹图像进行坐标变换、去噪、二值化、细化处理，获得亮条纹骨架图。最后，利用亮条纹的位置关系，反演出三维位移分量。该方法具有瞬时测量、精度高、适应性强等优点，较好地解决了三维位移的实时测量问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 圆光 径向 剪切 干涉仪 三维 位移 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于圆光栅径向剪切干涉仪的三维位移测量方法，其特征在于：首先利用圆光栅径向剪切干涉仪，并结合空间滤波方法，同时获得+1和-1衍射级次的莫尔条纹；然后对莫尔条纹进行图像处理，获得极坐标系中的亮条纹骨架图；最后根据莫尔条纹结构和三维位移量的精确关系，定量反演出三维位移分量。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安工业大学，未经西安工业大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201911003526.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
