[发明专利]激光鉴相鉴频和互相关处理的相位噪声测量装置和测量方法在审

专利信息
申请号: 201911004366.5 申请日: 2019-10-22
公开(公告)号: CN110716093A 公开(公告)日: 2020-01-21
发明(设计)人: 邹卫文;李成功;于磊;钱娜;陈建平 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: G01R29/26 分类号: G01R29/26;G01S7/40;H04B1/40
代理公司: 31317 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 代理人: 张宁展
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种激光鉴相鉴频和互相关处理的相位噪声测量装置和测量方法,装置包括:两条相同且独立的测量链路、待测信号源、功分模块和数据采集及互相关算法处理模块,所述的第一测量链路由依次的第一激光源模块、第一光电混频模块和第一光电转换模块构成,所述的第二测量链路由依次的第二激光源模块、第二光电混频模块和第二光电转换模块构成,所述的待测信号源的输出端与所述的功分模块的输入端相连。本发明利用激光器产生低相噪光信号,利用混频器提取出相位噪声。通过两条独立的测量链路,在后端数据处理部分采用互相关算法对链路额外噪声进行抑制,提高了测量链路的噪声灵敏度。
搜索关键词: 测量链 光电转换模块 激光源模块 待测信号 混频模块 分模块 互相关 链路 算法处理模块 相位噪声测量 互相关处理 噪声灵敏度 第二测量 第一测量 数据采集 相位噪声 激光器 数据处理 混频器 输出端 输入端 对链 鉴频 鉴相 算法 噪声 激光 测量
【主权项】:
1.一种基于激光鉴相鉴频互相关处理的相位噪声测量装置,其特征在于,包括:两条相同且独立的测量链路、待测信号源(1)、功分模块(2)和数据采集及互相关算法处理模块(9),所述的第一测量链路由依次的第一激光源模块(3)、第一光电混频模块(5)和第一光电转换模块(7)构成,所述的第二测量链路由依次的第二激光源模块(4)、第二光电混频模块(6)和第二光电转换模块(8)构成,所述的待测信号源(1)的输出端与所述的功分模块(2)的输入端相连,所述的功分模块(2)将输入的待测信号分为两路:所述的功分模块(2)的第一输出端与所述的第一光电混频模块(5)的第一输入端相连,所述的功分模块(2)的第二输出端与所述的第二光电混频模块(6)的第一输入端相连,所述的第一激光源模块(3)的输出端与所述的第一光电混频模块(5)的第二输入端相连,所述的第二激光源模块(4)的输出端与所述的第二光电混频模块(6)的第二输入端相连,所述的第一光电混频模块(5)的输出端与所述的第一光电转换模块(7)的输入端相连,所述的第二光电混频模块(6)的输出端与所述的第二光电转换模块(8)的输入端相连,所述的第一光电转换模块(7)的输出端与所述的数据采集及互相关算法处理模块(9)的第一输入端相连,所述的第二光电转换模块(8)的输出端与所述的数据采集及互相关算法处理模块(9)的第二输入端相连,所述的数据采集及互相关算法处理模块(9)是具有labview、MATLAB数据处理软件的计算机,所述的计算机的参考时钟端与所述的第一激光源模块(3)、第二激光源模块(4)和所述的待测信号模块(2)的参考时钟端相连。/n
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